介電常數(shù)測試儀是用來測試介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的儀器，而介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)。通過測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
 

　　介電常數(shù)測試儀的專用術(shù)語：
 

　　電容，C，名詞——當(dāng)導(dǎo)體之間存在電勢差時，導(dǎo)體和電介質(zhì)系統(tǒng)允許儲存電分離電荷的性能。
 

　　討論——電容是指電流電量q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當(dāng)電量采用庫倫為單位，電位采用伏特為單位時，電容單位為法拉，即：
 

　　C=q/V(1)
 

　　耗散因子(D)，(損耗角正切)，(tanδ)，名詞——是指損耗指數(shù)(K'')與相對電容率(K')之間的比值，它還等于其損耗角(δ)的正切值或者其相位角(θ)的余切值(見圖1和圖2)。
 

　　D=K''/K'(2)
 

　　4相關(guān)ASTM標準，ASTM標準手冊卷次信息，可參見ASTM網(wǎng)站標準文件匯總。
 

　　5該歷史標準的較后批準版討論——a：
 

　　D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp(3)
 

　　式中：
 

　　G=等效交流電導(dǎo)，
 

　　Xp=并聯(lián)電抗，
 

　　Rp=等效交流并聯(lián)電阻，
 

　　Cp=并聯(lián)電容，
 

　　ω=2πf(假設(shè)為正弦波形狀)
 

　　耗散因子的倒數(shù)為品質(zhì)因子Q，有時成為儲能因子。對于串聯(lián)和并聯(lián)模型，電容器耗散因子D都是相同的，按如下表示為：
 

　　D=ωRsCs=1/ωRpCp(4)
 

　　串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關(guān)系滿足以下要求：
 

　　Cp=Cs/(1 D2)(5)
 

　　Rp/Rs=(1 D2)/D2=1(1/D2)=1 Q2(6)